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PA-300シリーズ

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど小さな位相差の測定対象に向いています。

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WPA-KAMAKIRI

WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。

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WPA-300シリーズ

WPA-300シリーズはWPA-200シリーズが持つ大きな位相差の測定性能はそのままに、偏光イメージセンサーの解像度を5倍にまで高めることで、より鮮明な測定が可能です。細かい小さな位相差の変化をより鮮明にデータ化することができます。

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WPA-micro

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

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