CRYSTA Nova S16 ハイスピードカメラ業界で数多くの実績を誇るフォトロン「FASTCAM Nova」シリーズと、フォトニックラティス独自開発による偏光センサーを融合。高速かつ高精度なデータ収集を必要とする最先端の研究開発や計測分野に最適です。 MORE VRレンズ評価システム VRG-100 VRG-100はVR関連部材評価用の専用装置で、VR用レンズの品質評価に向いています。RGB各色での位相差、円偏光度（楕円率）の測定や、WPAシリーズでは測定ができなかった偏光子を含むサンプルも測定可能です。また、偏光子とQWPの相対角度のリアルタイム測定をすることも出来ます。 MORE 超高速ダイナミックフィゾー干渉計「DELTAPH」 非破壊・非接触計測や高速かつ瞬間現象の可視化ニーズの増加を踏まえ、世界唯一の偏光高速度カメラCRYSTAを軸に独自の干渉光学系による高速干渉計「DELTAPH(デルタフ)」を開発。干渉計測の対象を高速な動的現象に拡張します。 MORE WPA-300シリーズ WPA-300シリーズはWPA-200シリーズが持つ大きな位相差の測定性能はそのままに、偏光イメージセンサーの解像度を5倍にまで高めることで、より鮮明な測定が可能です。細かい小さな位相差の変化をより鮮明にデータ化することができます。 MORE カスタム偏光子/波長板 1枚の基板上で光学特性だけでなく形状もカスタマイズすることが可能です。不均一にしたり、分割構造にしたり、表面に沿って軸を曲げたりすることが可能です。ご希望の偏光分布を実現します。 MORE レーザ発振用反射型偏光子 偏光ごとに反射率を制御できます。レーザの共振ミラーに用いることで、反射率が高い方向の偏光だけを発振する偏光方向として制御できます。 MORE トゥルーゼロオーダー波長板/UV偏光子 フォトニック結晶の波長板は入射角依存性が小さく、信頼性の高い完全な0次波長板です。例えば、水晶で紫外域波長266nm用の0次1/2波長板を作ると厚さは11μm程度にもなってしまいますが、フォトニック結晶は石英板上に成膜されているので取扱いが容易です。 MORE 光通信用超薄型波長板 デジタルコヒーレントシステムの光トランシーバ、光変調器、受信器、WSS（Wavelength Selective Switch）において、コンパクトで自由な偏波制御が実現できます。 MORE 軸対称偏光変換素子 SWPシリーズ 光路に入れるだけで軸対象偏光を実現できる軸方位が12領域に分割された波長板です。直線偏光を放射状（ラジアル）もしくは同心円状（アジマス）の偏光に変換します。高い透過率により、ほぼ100%の変換効率を実現しました。光ピンセット、レーザー加工などで効果を発揮します。 MORE PA-300シリーズ PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。 ガラス製品、レンズなど小さな位相差の測定対象に向いています。 MORE PA-micro / PA-micro-S 複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。 MORE PA-300-MT 複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。 MORE WPA-200シリーズ WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。 フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。 MORE WPA-micro 複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。 顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。 付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。 MORE WPA-200-MT 複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。 MORE WPA-KAMAKIRI WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。 MORE PA/WPA-NIRシリーズ 測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。 MORE KAMAKIRI STS-LS KAMAKIRI STS-LSは、長期間連続生産するフィルムの全面検査に対応可能な唯一のシステムです。その場で結果を確認できるライブ表示機能やOK/NG判定機能を備え、不具合の早期発見が可能です。 MORE KAMAKIRI MEM-LS KAMAKIRI MEM-LSは、 1台のカメラで見たいラインの箇所や、フィルムの幅方向の部分をインラインの中で、まるで抜き取り検査のように測定、検査することができます。 MORE KAMAKIRI 複屈折計測モジュール KAMAKIRI複屈折計測モジュールは、ラインヘの設置がスペース的に難しい状況において、お客様の設備に取付けられる製品です。 MORE KAMAKIRI X-Stage ラインスキャンタイプでありながら、卓上型にしたコンパクトな検査システムです。インラインシステムと基本アルゴリズムを統一しているため、インラインシステム導入前の入門機としてお使いいただけます。 MORE KAMAKIRI MEM-AS 従来の偏光計測ではポイント測定であり、また、動的な変化を測定するにはサンプリング速度が不足していました。 KAMAKIRI MEM-ASは、高速かつエリアスキャンをすることが可能です。 MORE X6981 SLS / X6901sc SLS 極めて高速で高感度の長波長赤外線(LWIR)カメラで、科学者や研究者、技術者向けに設計されています。ひずみ層超格子(SLS)検出器により、短いスナップショット速度や広い温度帯に対応し、既存の長波長赤外線(LWIR)または中波長赤外線(MWIR)カメラよりも優れた均一性をもたらします。 MORE X6981 / X6901 / X6901sc 極めて高速で高感度の中波長赤外線(MWIR)カメラで、科学者や研究者、技術者向けに設計されています。このカメラは、先進のトリガー機能やオンカメラRAM/SSDへの録画機能、電動4ポジションフィルターホイールなどを備えているため、研究室でも試験場でも高速イベントのストップモーション機能を提供します。 MORE X8581 高感度で高速、高解像度の中波長赤外線(MWIR)カメラで、科学者や研究者、技術者向けに設計されています。オンカメラRAM/SSDへの録画機能から電動4ポジションフィルターホイールに至るまで、研究や科学用途に必要なすべての機能を備えています。 MORE A8581 FLIR A8581 MWIRサーモグラフィカメラは、産業、軍事、製造業の研究開発用途向けにクラス最高の鮮明な画像、正確な温度測定、効率化された解析機能をもたらします。130万ピクセルの検出器で高解像度の赤外線画像を生成します。 MORE A6751 短い露光時間とウィンドウモードでの高速フレームレートを実現しているため、高速の熱イベントや動きの速い対象物の記録に最適な選択肢となっています。冷却型のアンチモン化インジウム（InSb）検出器を搭載したこのカメラでは、移動する対象物の動きを止めて正確な温度計測を行い、さまざまな非破壊検査を行うことができます。 MORE A6701 電子機器の検査、製造工程の監視、非破壊検査など向けに設計されたこのカメラは、高速の熱イベントや動きの速い対象物の撮影に最適です。露光時間が短いため、対象の動きを止めて正確な温度計測をうことができます。 MORE A6261 卓越した感度とダイナミックレンジを、カスタマイズされたウィンドウウィング機能と積分時間の柔軟性と合わせて提供します。 このInGaAsカメラは0.9～1.7 µmの検出波長帯で高い線形を示すので、高温での赤外線測定や標準ガラスによる測定が必要な用途に最適なツールです。 MORE CRYSTA PI-1P CRYSTAは偏光に感度をもつ初の高速度カメラとして研究開発され、5年以上かけて完成に至りました。バイオ、ミリタリー、航空宇宙など様々な分野において物理量や物性の測定、および可視化を実現します。 MORE CRYSTA PI-5WP 偏光物体認識・検査・OEM向けの偏光画像処理システムです。小型設計でPCメモリへ直接記録します。 組込開発向けSDKが標準付属されています。 MORE WPI-200 全偏光情報が取得可能な偏光カメラです。偏光度を表すDOP計測や、円偏光の右回り、左回りの区別ができます。偏光の状態を示すストークスパラメータを取得できる画期的なカメラです。 MORE PI-300 偏光画像を動画撮影できるカメラです。輝度差の小さい物体の輪郭認識や、レーザ光の偏光計測などに活躍します。直線偏光度、主軸方位を出力できます。 MORE ME-210/ME-210-T 1nm以下の膜厚変化も高速・高密度に面測定できるφ8“ウェハ（オプションで⌀300mmまで対応可）まで全面測定可能な、高速マッピングエリプソメータです。 MORE SE-101 ポイント測定で高い測定精度・高速性を実現するコンパクトタイプのエリプソメータです。 ヘッドユニットは分離可能で、製造ラインや実験設備への組み込みが可能です。 MORE
