光学シミュレーションについて

お客様の様々なご要望にお応えするため、自社製の光学シミュレーション技術を複数保有しています。
さらに最先端の光学素子を実現するため、シミュレーション技術の開発も日々行っています。
ここに一例をご紹介します。

光学多層膜シミュレーション

光学多層膜の透過率・反射率のシミュレーション結果です。
当社のフォトニック結晶製品の精度を決める要です。
(マトリックス計算)

波動シミュレーション

波である光の振る舞いをシミュレーションします。
フォトニック結晶の設計には欠かせません。
(ビーム伝搬法、FDTD法)

偏光シミュレーション

偏光状態をシミュレーションします。
複屈折測定器、エリプソメータのキャリブレーション、測定結果の解析には欠かせない技術です。
(ストークスベクトル、ジョーンズベクトル)

関連製品

トゥルーゼロオーダー波長板/UV偏光子

フォトニック結晶の波長板は入射角依存性が小さく、信頼性の高い完全な0次波長板です。例えば、水晶で紫外域波長266nm用の0次1/2波長板を作ると厚さは11μm程度にもなってしまいますが、フォトニック結晶は石英板上に成膜されているので取扱いが容易です。

MORE

SE-101

ポイント測定で高い測定精度・高速性を実現するコンパクトタイプのエリプソメータです。
ヘッドユニットは分離可能で、製造ラインや実験設備への組み込みが可能です。

MORE

KAMAKIRI 複屈折計測モジュール

KAMAKIRI複屈折計測モジュールは、ラインヘの設置がスペース的に難しい状況において、お客様の設備に取付けられる製品です。

MORE

ME-210 / ME-310

1nm以下の膜厚変化も高速・高密度に面測定できるφ8“ウェハ(オプションで⌀300mmまで対応可)まで全面測定可能な、高速マッピングエリプソメータです。

MORE

関連ソリューション

次世代光通信

次世代光通信において偏波制御はますます重要性が高まっています。当社独自のフォトニック結晶における適用事例に加え、将来期待される機能についても紹介しています。

MORE

複屈折・応力ひずみ計測

従来の複屈折計測を点計測から面計測に拡張しています。高速度高精度の複屈折計測によって光学材料の品質評価や機能向上に貢献します。

MORE

全長全幅フィルム計測

業界初となる、光学フィルムの複屈折分布の全面計測を提供することで、ディスプレイ画面全体での映像品質保証につながるフィルム品質向上に貢献します。

MORE

超精密微細レーザ加工

次世代のEVや半導体装置に向けて微細加工技術の重要性が高まっています。当社は独自のビーム整形、偏光制御、および高速度温度イメージングによってその高度化を支援します。

MORE

関連導入事例

関連コラム

カタログダウンロード
お見積り・デモ依頼
お問い合わせ
ソフトウェアダウンロード