特徴

当社のフォトニック結晶を組み込んだイメージセンサーを活用したカメラと、当社独自のソフトウエアにて複屈折・位相差を高速に計測できるシステムです。

PA/WPAシリーズ

透明部品の歪み、フィルムの位相差ムラを評価できる装置です。顕微鏡サイズから大きいサイズ(約50cm)まで、測定物に応じたラインナップを揃えております。

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど小さな測定対象に向いています。

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
位相差が大きい透明な樹脂製品の測定に向いています。

PA/WPA-NIRシリーズ

測定波長850nm帯のPA/WPAシリーズ。可視光を透過しない樹脂・カルコゲナイドガラス(顔認証、LiDARシステム等)の品質管理、プロセス開発の強力なツールを提供します。

多彩な表示解析機能専用ソフトウェアPA/WPA-View

取得した2次元データを多彩な表示・解析機能によりグラフ化、比較できます。

PA/WPA-Viewの基本操作方法動画 ※BGMがでます。音量にご注意ください。

豊富なオプション機能ラインナップ

ソフトウェアの機能追加、視野範囲を変更、より大きな位相差を測る機能追加など、標準機能を拡張する豊富なオプションを取り揃えております。

データ処理機

能測定結果に各種フィルタを適用し、局所的変化の強調や、ノイズ除去などのデータ処理可能です。
複数のフィルタを順番に設定して実行可能です。

レンズ解析機能

設定した指定領域内にて位相差値、主軸方位の閾値による判定する機能です。

自動判定機能

レンズ解析機能と連動し、ユーザー様が設定した条件にて測定、自動で合否判定します。

リアルタイム解析機能

計測時間をほぼゼロ秒に短縮。スピーディな検査を実現します。

高位相差オプション

測定波長を変更することで標準WPAの位相差測定領域を超える高位相差測定を実現しております。

波長分散モード(CDモード)

波長分散に着目した新アルゴリズムです。肉厚で複雑形状の樹脂成形品の測定において発生しやすいデータ急変部が少ない、再現性の高い測定を可能としました。

ズームレンズ

小さなサンプルを拡大して評価することが可能になるオプションです。
小径製品の測定、複雑形状部分の拡大観察にご利用ください。

広視野補正機能

大きなサンプルを測定する場合、画角の影響を受けて位相差の測定値が変わってしまうことがあります。

このオプションはその画角による見かけ上の位相差を取り除くことが可能です。

レンズ測定専用ステージ

低位相差のレンズ測定時に発生する測定器起因の固定位相差を低減します。

PA・WPA 用遮光カバー

蛍光灯などの映り込みを防止する遮光カバーです。

 

外部制御機能

装置を外部から操作するためのオプションソフトです。ユーザー様が搬送系等のシステムと連動させて、生産ラインでの自動測定などに活用いいただけます。

ラインアップ

PA-300シリーズ

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど小さな位相差の測定対象に向いています。

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PA-micro / PA-micro-S

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

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PA-300-MT

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

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WPA-200シリーズ

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。

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WPA-micro

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

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WPA-200-MT

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

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WPA-KAMAKIRI

WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。

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PA/WPA-NIRシリーズ

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

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