2次元複屈折評価システム

PA-300-MT

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。
インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

PA-300-MTスペック
	測定
出力項目	位相差(nm),位相軸方位(°)　※データ処理オプションにより応力値換算可能（Mpa）
測定範囲	0～130nm
繰返し再現性	σ<0.1nm
	センサユニット
複屈折画素数	2056 × 2464（≒500万）pixels
測定波長	520nm
	筐体
寸法 (W x D x H)	160 × 190 × 316mm
測定視野サイズ	約37 × 44mm(標準レンズ) 約 7.0 × 8.4 mm ～約 20.0 × 24.0 mm(ズームレンズ) ※分離時はセットアップ次第
本体重量	約4.0kg
	その他
インターフェース	GigE（カメラ信号）
電源/消費電流	AC100～240V（50/60Hz） / ～6.0A
ソフトウェア	PA-View
付属品	ノートパソコン、標準レンズ、取扱説明書
	オプション
ズームレンズ	対応
データ処理機能	対応
広視野補正機能	対応
レンズ解析機能	対応
リアルタイム解析機能	対応
外部制御機能	対応
波長分散（CD）モード	非対応
WPA高位相差測定機能	非対応
レンズ測定専用ステージ	対応
PA・WPA用遮光カバー	対応
光弾性係数計測オプション	非対応

カタログ/会社案内ダウンロード

WPA-300シリーズはWPA-200シリーズが持つ大きな位相差の測定性能はそのままに、偏光イメージセンサーの解像度を5倍にまで高めることで、より鮮明な測定が可能です。細かい小さな位相差の変化をより鮮明にデータ化することができます。

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

従来の複屈折計測を点計測から面計測に拡張しています。高速度高精度の複屈折計測によって光学材料の品質評価や機能向上に貢献します。