PAシリーズ

購⼊前

応力は測れないのですか?
測定しているのはあくまでリタデーション(位相差)です。
光弾性効果では材料個別の光弾性定数に応力と厚さをかけるとリタデーションになります。
データ処理オプションには、光弾性定数、厚さを入力いただき、応力の単位で表示する機能もあります。
ただし形状にも影響を受けますので、数値の保証までは致しかねます。
屈折率分布(屈折率差)は測れないのですか?
測れません。測定しているのは、屈折率の絶対値ではなく、偏光方向による屈折率の差を測定しています。
半透明のものでも測れますか?
度合いによります。デモ評価をご依頼いただき、お確かめいただくことができます。なお半透明の度合いによって、測定値はずれる可能性があることはあらかじめご了解ください。
解像度はどの程度ですか?
測定ヘッドを上下することで視野範囲を変えることができます。
その範囲によって解像度が決まります。PAでは横方向2464画素です。
測定環境は暗室が必須ですか?
必須ではありません。ただし室内照明がサンプルに映り込んで測定値に影響を与える場合があります。
クリーンルーム対応可能?
お問い合わせください。
自動ステージなどと組み合わせて、自動的に測定したいのですが。
外部制御オプションにより、外部プログラムから測定装置(PA/WPA)を制御することが可能です。
カスタム対応は可能ですか?
お客様と相談の上、可能な限り対応しております。お問い合わせフォームからご連絡ください。
複屈折があるかどうかわからないのですが。
2枚の偏光フィルムでサンプルを挟んでいただき、手前のフィルムを回してみてください。
明るさや色味が回転によって変われば、複屈折があると判断できます。
深さ方向の位相差分布は可能ですか?
できません。
位相差の入射角依存性は測定できますか?
できません。
すりガラスは測れますか?
測定はできますが、散乱の程度により正しい値は出力されない場合があります。
赤い樹脂成形品は測定できますか?
測定波長が緑の波長のため、測定できません。(緑色が透過しません。)
レンズは自由に変えてもいいですか?
当社でレンズごとに補正を取っています。付属のレンズ以外は使用しないください。
ヘッドを外して別の光源と合わせて測定したい。
PA-MTタイプを推奨します。測定ヘッドの分離可能です。お問い合わせください。
どこかの公設試で使用することは可能ですか?
お問い合わせください。

購入後

ベースラインはどう取りますか?
一度サンプルを置いていただき、視野サイズ、フォーカスを調整いただいた後、光源の上に何も置かない状態で取得してください。
ベースラインを取る間隔は?
できたら測定直前に毎回取得が望ましいです。
温度変化等で光学系の複屈折が変化するため、ベースライン取得後時間が経過すると、測定値に影響がでる場合があります。
測定上限を超えたサンプルを測定するとどうなりますか?
リタデーション130nm以上のサンプルでは測定値が折り返します。
したがって正しく測定できていない場合があります。WPAを用いるとその判断が可能です。
イラスト1
PAでは130nmまでの位相差測定が可能です。130nmを超える領域ではグラフの赤線で示すように数値の増減を繰り返します。
WPAは130nmを超える領域でもグラフの青線のようにリニアに測定が可能です。
130nmを超える測定対象物にはWPAを推奨します。
「測定精度」とは?
PAの測定では一番のノイズの原因はCCDセンサでのランダムノイズです。
これは多数枚を積算することで低減ができます。
ソフト上で「測定精度」を変更した場合、画像の取得枚数が変わります。
枚数が多い(ノイズが少ない)ほど測定時間は長くなります。
「レンズ切り替え」とは?
PAではレンズを含めた光学系の補正を行っています。したがってレンズを変更された場合は、レンズに合わせて切り替えていただく必要があります。(あらかじめ登録したレンズ以外が使用できません)
ベースライン取得後ヘッドの高さを変えても大丈夫ですか?
ヘッドの高さを変えると、見ている光源範囲が変わります。厳密には異なる偏光分布となりますので、ベースラインを取り直していただくことが望ましいです。
起動してすぐに測定しても大丈夫ですか?
測定はできますが、起動後しばらくは光源、ステージガラスの温度が安定しないため、光源の偏光状態が微小ですが変動します。起動後30分ほど待っていただくのが望ましいです。

測定原理

複屈折はどんなときに発生するのですか?
測定対象の分子配向が偏っている場合か、応力が発生している場合です。
複屈折の測定結果はどのように活用すればよいのですか?
樹脂成形品の場合は、成形条件の最適化や管理に活用できます。
ガラス製品の場合は、応力評価・管理に活用できます。
複屈折があると製品にどのような影響が出るのですか?
複屈折が大きくなると、
①レンズでは結像性能の低下
②プレートでは斜めに見た際の色むら発生
③ガラス製品では応力の増加
④射出成形品で不安定な成形
につながる場合があります。

WPAシリーズ

購⼊前

応力は測れないのですか?
測定しているのはあくまでリタデーション(位相差)です。
光弾性効果では材料個別の光弾性定数に応力と厚さをかけるとリタデーションになります。
データ処理オプションには、光弾性定数、厚さを入力いただき、応力の単位で表示する機能もあります。
ただし形状にも影響を受けますので、数値の保証までは致しかねます。
屈折率分布(屈折率差)は測れないのですか?
測れません。測定しているのは、屈折率の絶対値ではなく、偏光方向による屈折率の差を測定しています。
半透明のものでも測れますか?
度合いによります。デモ評価をご依頼いただき、お確かめいただくことができます。なお半透明の度合いによって、測定値はずれる可能性があることはあらかじめご了解ください。
解像度はどの程度ですか?
測定ヘッドを上下することで視野範囲を変えることができます。
その範囲によって解像度が決まります。WPAでは横方向384画素です。
測定環境は暗室が必須ですか?
必須ではありません。ただし室内照明がサンプルに映り込んで測定値に影響を与える場合があります。
クリーンルーム対応可能ですか?
お問い合わせください。
自動ステージなどと組み合わせて、自動的に測定したいのですが。
外部制御オプションにより、外部プログラムから測定装置(PA/WPA)を制御することが可能です。
カスタム対応は可能ですか?
お客様と相談の上、可能な限り対応しております。お問い合わせフォームからご連絡ください。
複屈折があるかどうかわからないのですが。
2枚の偏光フィルムでサンプルを挟んでいただき、手前のフィルムを回してみてください。
明るさや色味が回転によって変われば、複屈折があると判断できます。
深さ方向の位相差分布は可能ですか?
できません。
位相差の入射角依存性は測定できますか?
できません。
なぜ大きな位相差まで測定できるのですか?
異なる3波長のデータを比較しています。
位相差が大きいほど、3波長のデータ間の差が大きくなるので、そこから位相差の次数を判断しています。
結果として5-6波長分までの位相差を測定することができます。(上限は材料に依存します。)
すりガラスは測れますか?
測定はできますが、散乱の程度により正しい値は出力されない場合があります。
赤い樹脂成形品は測定できますか?
測定波長が緑の波長のため、測定できません。(緑色が透過しません。)
レンズは自由に変えてもいいですか?
当社でレンズごとに補正を取っています。付属のレンズ以外は使用しないください。
ヘッドを外して別の光源と合わせて測定したい。
WPA-MTタイプを推奨します。測定ヘッドの分離可能です。お問い合わせください。
どこかの公設試で使用することは可能ですか?
お問い合わせください。

購入後

ベースラインはどう取りますか?
一度サンプルを置いていただき、視野サイズ、フォーカスを調整いただいた後、光源の上に何も置かない状態で取得してください。
ベースラインを取る間隔は?
温度変化等で光学系の複屈折が変化するため、ベースライン取得後時間が経過すると、測定値に影響がでる場合があります。
「測定精度」とは?
WPAの測定では一番のノイズの原因はCCDセンサでのランダムノイズです。
これは多数枚を積算することで低減ができます。
ソフト上で「測定精度」を変更した場合、画像の取得枚数が変わります。
枚数が多い(ノイズが少ない)ほど測定時間は長くなります。
「レンズ切り替え」とは?
WPAではレンズを含めた光学系の補正を行っています。したがってレンズを変更された場合は、レンズに合わせて切り替えていただく必要があります。(あらかじめ登録したレンズ以外が使用できません)
ベースライン取得後ヘッドの高さを変えても大丈夫ですか?
ヘッドの高さを変えると、見ている光源範囲が変わります。厳密には異なる偏光分布となりますので、ベースラインを取り直していただくことが望ましいです。
起動してすぐに測定しても大丈夫ですか?
測定はできますが、起動後しばらくは光源、ステージガラスの温度が安定しないため、光源の偏光状態が微小ですが変動します。起動後30分ほど待っていただくのが望ましいです。

測定原理

複屈折はどんなときに発生するのですか?
測定対象の分子配向が偏っている場合か、応力が発生している場合です。
複屈折の測定結果はどのように活用すればよいのですか?
樹脂成形品の場合は、成形条件の最適化や管理に活用できます。
ガラス製品の場合は、応力評価・管理に活用できます。
複屈折があると製品にどのような影響が出るのですか?
複屈折が大きくなると、
①レンズでは結像性能の低下
②プレートでは斜めに見た際の色むら発生
③ガラス製品では応力の増加
④射出成形品で不安定な成形
につながる場合があります。

MEシリーズ

購入前

多層膜の厚さは測定できますか?
測定できるパラメータは二つだけです。それ以外の層の厚さと各層の屈折率がすべて既知であれば、測定できます。
透明基板上の膜厚は測定できますか?
厚さ0.5mm以上であれば可能です。ME-210-Tという製品が該当します。
空間分解能はどの程度ですか?
高精細モードで5.5μm間隔のデータは出ます。
ただし実力値は、光学系の制限により20ミクロン程度の分解能とお考え下さい。
別の波長で測定できますか?
カスタマイズ対応となります。問い合わせフォームからご相談ください。
クリーンルーム対応可能ですか?
お問い合わせください。
分光エリプソは可能ですか?
できません。単一波長のみです。
ローダーとの組み合わせは可能ですか?
実績はございます。問い合わせフォームからご相談ください。
測定時間はどの程度ですか?
最大毎分20000点以上(高精細モード)
測定面積はどの程度まで可能ですか?
標準で直径8インチ。カスタムで直径12インチが可能です。

SEシリーズ

購入前

多層膜の厚さは測定できますか?
測定できるパラメータは二つだけです。それ以外の層の厚さと各層の屈折率がすべて既知であれば、測定できます。
透明基板上の膜厚は測定できますか?
できません。
別の波長で測定できますか?
カスタマイズ対応となります。問い合わせフォームからご相談ください。
測定ヘッドのみの購入は可能ですか?
1台目は標準セット、2台目以降はヘッドと光源をセットにしたユニット売り可能。
SDKはありますか?
あります。(有償オプション)