2次元複屈折評価システム
WPA-micro
複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。
結晶配向分布評価
顕微鏡視野で結晶配向分布がデータ化できます。金属などの不透明サンプルの反射評価も可能です。
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| 出力項目 |
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| 測定範囲 |
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| 繰返し再現性 |
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| 複屈折画素数 |
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| 測定波長 |
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| 寸法 (W x D x H) |
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| 測定視野サイズ |
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| 本体重量 |
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| インターフェース |
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| 電源/消費電流 |
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| ソフトウェア |
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| 付属品 |
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| ズームレンズ |
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| データ処理 |
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| 広視野補正 |
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| レンズ解析 |
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| レンズ測定専用ステージ |
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| リアルタイム解析 |
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| CDモード |
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| 高位相差 |
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| 外部制御 |
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