2次元複屈折評価システム

WPA-micro

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

結晶配向分布評価

顕微鏡視野で結晶配向分布がデータ化できます。金属などの不透明サンプルの反射評価も可能です。

スペック
  • 測定
出力項目
  • 位相差(nm),位相軸方位(°) ※データ処理オプションにより応力値換算可能(Mpa)
測定範囲
  • 0~3500nm(水晶にて評価した場合)
繰返し再現性
  • σ<1.0nm
  • センサユニット
複屈折画素数
  • 384 × 288(≒0.11万)pixels
測定波長
  • 523nm,543nm,575nm
  • 筐体
寸法
(W x D x H)
  • 270 × 500 × 615mm
測定視野サイズ
  • 約80×110μm~約2.0×2.7mm
    対物レンズ x2,x5,x10,x20,x50
本体重量
  • 約20kg
  • その他
インターフェース
  • GigE(カメラ信号)、RS-232C(モータ制御)
電源/消費電流
  • AC100-240V
ソフトウェア
  • WPA-View(for WPA-micro)
付属品
  • デスクトップパソコン、取扱説明書※顕微鏡を含む
  • オプション
ズームレンズ
  • 非対応
データ処理機能
  • 対応
広視野補正機能
  • 要相談
レンズ解析機能
  • 対応
リアルタイム解析機能
  • 対応
外部制御機能
  • 対応
波長分散(CD)モード
  • 対応
WPA高位相差測定機能
  • 非対応
レンズ測定専用ステージ
  • 非対応
PA・WPA用遮光カバー
  • 対応
光弾性係数計測オプション
  • 非対応

カタログ/会社案内ダウンロード

カテゴリ

  • #複屈折・応力ひずみ計測ソリューション
  • #2次元複屈折評価システム
  • #複屈折計測装置
  • #樹脂成型品

関連製品

関連ソリューション

関連導入事例