インライン/オフライン複屈折マッピング計測装置

KAMAKIRI MEM-AS

エリアスキャンで動的な複屈折変化を観察

従来の偏光計測ではポイント測定であり、また、動的な変化を測定するにはサンプリング速度が不足していました。
KAMAKIRI MEM-ASは、高速かつエリアスキャンをすることが可能です。
また、任意の点の時系列データを使うことで、樹脂の押出流れの変動や延伸スピードや強度のムラなどを評価することができます。
位相差および主軸方位分布の変化は動画(AVI形式)として保存が可能で、測定データの説明などに効果的です。

用途例

ダイ出口の位相差、配向ムラの変動、複屈折発現評価
可視化延伸機内での、延伸時のチャック周辺挙動評価

スペック
型名
  • KAMAKIRI MEM-AS
主な導入目的
  • 開発品評価
システム特徴
  • 1.動的現象を測定
    2.各種試験機に取付
    3.STSへ改造可能
測定項目
  • 位相差主軸方位
位相差計測レンジ
  • 0~260nm
位相差繰返し精度
  • <士1nm ※当社規定の測定条件下で基準位相子を用いて評価した性能となります
主軸方位計測レンジ
  • 0~180°
主軸方位繰り返し積度
  • <土1° ※位相差の値が10nm以上時の繰り返し精度となります。
標準測定中心波長
  • 543nm ※中心波長の変更をご希望の際には、別途ご相談ください。
測定点数
  • 424X340
ソフトウェア[日本語/英語対応]
  • KAMAKIRIオフライン基本ソフト
カスタマイズ実績
  • お客様の設備(延伸機や引張り試験機)に専用の取り付け器具を提供可能
    高分子構造や結晶構造を見るために、顕微鎖へ取付

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インライン/オフライン複屈折マッピング計測装置 KAMAKIRI

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カテゴリ

  • #全長全幅フィルム品質制御ソリューション
  • #インライン/オフライン複屈折マッピング計測装置
  • #複屈折計測装置

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