特殊イメージセンサー技術について

従来のイメージセンサーとは異なる利用シーンが増えています。たとえばEVの自動走行機能における障害物検知、あるいは細胞検査における分光検査などがあげられます。当社では、マイクロスケールの光学素子をイメージセンサーの画素に接続し、高付加価値のイメージセンサーを実現する製造技術を保有しています。たとえば、マイクロ光学素子アレイの光学性能を把握したうえ、その性能をできる限り維持可能な接続条件を検討し、試作を重ね、自社で量産製造プロセスまで確立して市場に提供することが可能です。

 

偏光イメージセンサ用マイクロ偏光素子の電子顕微鏡写真

偏光高速度イメージセンサの写真

事例として偏光高速度イメージセンサーが挙げられます。マイクロスケールで製作された方位の異なる直線偏光素子の各素子と、並列読み出し回路が付与された高速度CMOSイメージセンサを接続することで、偏光現象を高速度かつ二次元でとらえる特殊イメージセンサーを実現しました。この開発により、切削加工時の応力分布解析による切削条件最適化、空間を伝わる音の可視化による超音波ソナーの音響効果向上など、従来のCMOSイメージセンサでは困難であった現象の可視化および制御に応用されています。

このように私たちはイメージセンサーの光学性能を高めることに日々関心をもち、技術研究を進めています。

関連製品

WPA-micro

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

MORE

光通信用超薄型波長板

デジタルコヒーレントシステムの光トランシーバ、光変調器、受信器、WSS(Wavelength Selective Switch)において、コンパクトで自由な偏波制御が実現できます。

MORE

WPA-200-MT

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

MORE

CRYSTA PI-5WP

偏光物体認識・検査・OEM向けの偏光画像処理システムです。小型設計でPCメモリへ直接記録します。
組込開発向けSDKが標準付属されています。

MORE

関連ソリューション

複屈折・応力ひずみ計測

従来の複屈折計測を点計測から面計測に拡張しています。高速度高精度の複屈折計測によって光学材料の品質評価や機能向上に貢献します。

MORE

全長全幅フィルム計測

業界初となる、光学フィルムの複屈折分布の全面計測を提供することで、ディスプレイ画面全体での映像品質保証につながるフィルム品質向上に貢献します。

MORE

関連導入事例

関連コラム

カタログダウンロード
お見積り・デモ依頼
お問い合わせ
ソフトウェアダウンロード