偏光計測装置の基本構成と測定例

基本構成

①光源の偏光状態分布を取得          ②サンプル透過後の偏光状態分布を取得

③各画素の偏光状態の変化から、複屈折の量と軸方位を算出。

円偏光フィルタを用いる理由:
光源が直線偏光の場合、これと同じ方向の軸を持つ複屈折が検出できない。
光源を円偏光にすることで、全方向に軸を持つ複屈折が同時に検出可能になる。


実際の測定装置外観

PAシリーズによる測定例(1)


レンズの複屈折分布評価


光学ガラスの複屈折分布評価

 

PAシリーズによる測定例(2)

PAシリーズの光学顕微鏡タイプでは微細なサンプルの複屈折分布も観察可能。

 
光ファイバー断面の複屈折分布評価


定量解析が任意線上、領域で可能

 

 

PAシリーズによる測定例(3)

樹脂成形品(試験片)の材料による歪み分布の違い評価

成形材料(及び成形方法)による複屈折の違いが視覚的/定量的に比較できる。


上記試験片の矢印ライン上の位相差分布

※PCは実際には歪みが最も大きいが、PAシリーズでは大きすぎる為に測定値が正しくない。

PAシリーズの測定限界

複屈折の面内分布を定量評価できるPAシリーズには、
測定できる位相差の上限が、λ/4までに制限されるという短所がある。

コの字部材に徐々に大きな力を加えていったときの位相差分布の変化

測定波長(520nm)の1/4以上の位相差では折り返された値が示される。
大きな位相差変化のあるサンプルでは、実際には無いうねりが表示される。

PAシリーズは、100nm程度以下の位相差のサンプルに、定量測定の用途が限定される。

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