偏光イメージセンサーの構造と原理（2/4）

複屈折の理解から当社装置の計測原理や特徴を４つの記事でまとめています

偏光子フィルタ集積素子をCCD前面に配置した構成

こちらのページも是非ご覧ください。特殊イメージセンサ技術について

隣接4画素の比較、演算により偏光情報を計測

[入射偏光と出力パターン]

[演算方法の概略 ]
4画素の比較をすると、45度刻みではなく、
あらゆる角度の偏光方位を算出することができる。

偏光子透過軸角度

偏光状態に対応した市松模様

各点の複屈折情報(主軸方位と大きさ)が同時にデータ化される。

位相差分布

位相差の主軸方向分布

円周方向の位相差分布グラフ

偏光計測装置の基本構成と測定例

関連製品

WPA-300シリーズはWPA-200シリーズが持つ大きな位相差の測定性能はそのままに、偏光イメージセンサーの解像度を5倍にまで高めることで、より鮮明な測定が可能です。細かい小さな位相差の変化をより鮮明にデータ化することができます。

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。
フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。