高分子膜の延伸試験における配向イメージング

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A6751-PH

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X6981 HS-PH

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A700-PH

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複屈折・応力ひずみ計測

従来の複屈折計測を点計測から面計測に拡張しています。高速度高精度の複屈折計測によって光学材料の品質評価や機能向上に貢献します。

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