インライン／オフライン複屈折マッピング計測装置
KAMAKIRI X-Stage
抜き取り検査や開発品評価に適した
卓上型システム
KAMAKIRI X-stageは、ラインスキャンタイプでありながら、卓上型にしたコンパクトな検査システムです。インラインシステムと基本アルゴリズムを統一しているため、インラインシステム導入前の入門機としてお使いいただけます。
フィルムサイズが大きい場合、ステージサイズをカスタマイズすることにより 1回5分程度で、1.5mの幅広フィルムのTD方向分布を評価することが可能です。
(1.5m以上のフィルムの場合は別途こ相談ください）
| 型名 |
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| 主な導入目的 |
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| システム特徴 |
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| 測定項目 |
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| 位相差計測レンジ |
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| 位相差繰返し精度 |
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| 主軸方位計測レンジ |
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| 主軸方位繰り返し積度 |
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| 標準測定中心波長 |
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| 測定点数 |
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| ソフトウェア[日本語／英語対応］ |
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| カスタマイズ実績 |
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