弊社ブースにて、2次元複屈折評価システムを展示いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

第1回  半導体産業展［東京］

会場　　　東京ビッグサイト
URL　　　 https://k-semi.jp/jpca/
出展機種　近赤外2次元複屈折評価システム　WPA-200-NIR
　　　　　高速エリプソメータ（膜厚測定装置）SE-101
　　　　　高速マッピングエリプソメータ（膜厚測定装置）ME-210（パネルのみ）
小間番号　7F-24

WPA-200-NIR