レンズの複屈折測定で有効な「レンズ測定専用ステージ」のご紹介

レンズの複屈折測定で発生してしまう固定パターンを低減します

 

低位相差で且つ曲率の大きなガラスレンズの位相差、複屈折評価をする際の課題の一つにレンズ測定時に発生する固定パターンがあります。

この固定パターンは被測定物(レンズ)の特性ではなく、測定系が原因で発生しています。よって、当社装置に限らず、同じ原理の装置では発生する可能性があります。

この課題は一部のお客様で長年課題となっていましたが、ようやく問題を解決できる技術を確立することができ、ハードウェアオプション「レンズ測定専用ステージ」として発売いたしました。

レンズ、特にガラスレンズの位相差、複屈折評価が必要なお客様には、有効にご活用いただける製品です。

レンズ測定時の位相差固定パターンとは

 

位相差、複屈折が低いガラスレンズを測定した場合、ほぼ無歪みのレンズでも下記画像の赤丸部分に位相差の固定パターンが発生してしまいます。

原因は装置に起因するもので、同様の測定原理の他社装置でも発生します。

固定パターンを低減した例

今回開発したオプションを使用することで、下記のように固定パターンが低減し、本来評価したい位相差、複屈折の評価が可能になります。

尚、ソフトウェア的な数値処理ではありませんので、当社装置の特長である測定の高速性は損なわずに低減可能です。

こちらの動画で詳しく説明しています

固定パターンの発生原因の説明と、レンズ測定専用ステージでそれを低減する仕組みをこちらの動画で詳しく説明しています。

※BGMがでます。音量にご注意ください。

固定パターンの低減効果はサンプルによって異なりますので、評価されたいレンズを当社にお送りいただければ、デモ測定(無償)を行い、その効果をご確認いただけます。

デモ測定のご用命はこちらよりお問合せください。

 

関連タグ

関連製品

WPA-200-MT

複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

MORE

WPA-200シリーズ

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。

MORE

WPA-KAMAKIRI

WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。

MORE

PA/WPA-NIRシリーズ

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

MORE

関連導入事例

カタログダウンロード
お見積り・デモ依頼
お問い合わせ
ソフトウェアダウンロード