2次元複屈折評価システム
PA-300-MT
複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。
インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。
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| 出力項目 |
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| 測定範囲 |
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| 繰返し再現性 |
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| 複屈折画素数 |
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| 測定波長 |
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| 寸法 (W x D x H) |
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| 測定視野サイズ |
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| 本体重量 |
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| インターフェース |
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| 電源/消費電流 |
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| ソフトウェア |
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| 付属品 |
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| ズームレンズ |
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| データ処理機能 |
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| 広視野補正機能 |
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| レンズ解析機能 |
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| リアルタイム解析機能 |
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| 外部制御機能 |
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| 波長分散（CD）モード |
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| WPA高位相差測定機能 |
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| レンズ測定専用ステージ |
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| PA・WPA用遮光カバー |
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| 光弾性係数計測オプション |
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カテゴリ
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