2026/4/22-24 OPIE ’26 レンズ設計・製造展にて、2次元複屈折評価システムを展示します
当社代理店である株式会社菱光社様ブースにて、2次元複屈折評価システムを展示いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
OPIE ’26 レンズ設計・製造展
会場 パシフィコ横浜
URL https://www.opie.jp/
出展機種 2次元複屈折評価システム PA-300-MT
ブース番号 L-09（株式会社菱光社様ブース）
出展機種：PA-300-MT（3波長測定タイプ）
装置概要：
従来の装置は波長520nmに対して今回の試作機はRGB（
での測定を可能にしました。
緑の波長では吸収されてしまうような赤いサンプルの測定や
RGB波長での位相差を知りたいお客様に向けたカスタム事例です