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PA-300シリーズ

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど小さな位相差の測定対象に向いています。

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PA/WPA-NIRシリーズ

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

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WPA-300シリーズ

WPA-300シリーズはWPA-200シリーズが持つ大きな位相差の測定性能はそのままに、偏光イメージセンサーの解像度を5倍にまで高めることで、より鮮明な測定が可能です。細かい小さな位相差の変化をより鮮明にデータ化することができます。

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PA-micro / PA-micro-S

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

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