偏光計測装置の基本構成と測定例（3/4） 相关标签 #複屈折・応力ひずみ計測ソリューション #偏光レオイメージングシステム #偏光ハイスピードカメラ #2次元複屈折評価システム #複屈折計測装置 相关产品 WPA-200シリーズ WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。 フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。 MORE WPA-KAMAKIRI WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。 MORE PA-micro / PA-micro-S 複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。 MORE PA-300-MT 複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。 MORE 相关案例分析 機能性ガラスの複屈折分布 MORE 光学フィルムの複屈折ムラ計測 MORE 透明樹脂成型品の残留応力分布 MORE VRレンズの性能評価を可能に 専用装置VRG-100の測定事例 MORE
