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光通信用超薄型波長板

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WPA-200シリーズ

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PA-micro / PA-micro-S

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

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WPA-KAMAKIRI

WPAシリーズは、異なる3つの波長を選択、そして各波長での位相差を比較・演算することにより、3000nm程度の位相差を測定することが可能になりました。また、1万nm程度の超高位相差を測定するニーズに対応できるよう、高位相差オプションを用意しています。

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業界初となる、光学フィルムの複屈折分布の全面計測を提供することで、ディスプレイ画面全体での映像品質保証につながるフィルム品質向上に貢献します。

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複屈折・応力ひずみ計測

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