CASE STUDIES

高分子膜の延伸試験における配向イメージング

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A700-PH

A700シリーズは望遠からマクロ撮影まで可能なサーモグラフィ＆可視一体カメラです。製造プロセスの監視・電子基板の温度計測やあらゆる熱現象の撮影・解析に於いて、「赤外光」と「可視光」を同時撮影し、重ね合わせ表示で分かりやすく「見える化」することが出来ます。

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X8581 HS-PH

高感度で高速、高解像度の中波長赤外線(MWIR)カメラで、科学者や研究者、技術者向けに設計されています。オンカメラRAM/SSDへの録画機能から電動4ポジションフィルターホイールに至るまで、研究や科学用途に必要なすべての機能を備えています。

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A6701-PH

電子機器の検査、製造工程の監視、非破壊検査など向けに設計されたこのカメラは、高速の熱イベントや動きの速い対象物の撮影に最適です。露光時間が短いため、対象の動きを止めて正確な温度計測をうことができます。

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X6981 HS-PH

極めて高速で高感度の中波長赤外線(MWIR)カメラで、科学者や研究者、技術者向けに設計されています。このカメラは、先進のトリガー機能やオンカメラRAM/SSDへの録画機能、電動4ポジションフィルターホイールなどを備えているため、研究室でも試験場でも高速イベントのストップモーション機能を提供します。

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高速度で伝播する温度変化を解析することで、材料の耐久性、摩耗、ひずみといった品質評価、および新材料開発などの研究に貢献します。

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複屈折・応力ひずみ計測

従来の複屈折計測を点計測から面計測に拡張しています。高速度高精度の複屈折計測によって光学材料の品質評価や機能向上に貢献します。

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