歪み計測機

複屈折分布の測定原理

強い内部応力や歪んだ結晶構造などの原因で、 屈折率が向きによってわずかに異なる値を示すことがあります。 これを複屈折と呼びます。
　複屈折を持つ物質には、透過した光の偏光状態を変化させる特徴があり、 液晶パネルや光ディスクなどにひろく利用されています。
　また、内部応力の評価に複屈折測定が利用されることもあります。

しかしながら、一般に複屈折の測定には時間がかかるため、面分布を 定量測定したい場合にも、数ポイントの点測定などで代替されてきました。
　PA100なら、簡単な操作で複屈折の面分布を高速測定できます。 これにより、サンプルの全数・全面測定が可能になります。

高速な複屈折の面分布測定を実現には、2つの独自技術が生かされています。
技術1:ヘッド部内蔵の偏光イメージセンサ
　偏光カメラPI00と同様のこのセンサにより、偏光の面分布を画像として、 瞬時に撮影できます。

技術2:高速な偏光計測アルゴリズム
　高度な偏光計算を各画素ごとに高速処理するプログラムがあって、 初めて高速な複屈折測定が実現しました。

操作方法は簡単です。
　はじめに測定物を置かない状態で光源を撮影します。
　あとは、サンプルをのせて測定ボタンをクリックするだけで、次々に サンプル全面の複屈折分布を測定できます。