マッピングエリプソメータ

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仕 様

 装置仕様
 測定方式 フォトニック結晶アレイ並列処理方式
 測定再現性 膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001※
 装置構成
 光源 半導体レーザ(typ. 636nm)
 測定スポット 約 1mm角
 入射角度 60,70,75[deg] 手動交換
 標準ステージサイズ 最大6inchウェハー対応
 測定速度  毎分1000点(参考)
 寸法・重量 システム全体:520 W×500 D×506 H [mm],
 約60kg
※Si上SiO2膜(約100nm)を入射角70°にて繰り返し測定した標準偏差
※測定速度の値は測定対象、ステージ設定等で変わり、常に毎分1000点を保証するものではありません。
 製品内容        ME101システム一式
 操作パソコン 標準サンプル
 ソフトウェア(インストールCD)        
 取扱説明書
 ※動作波長帯域、ソフトウェア改良等の御希望がございましたら、御相談下さい。
エリプソメータの構成図