エリプソメータ

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仕 様

 装置仕様
 測定方式 フォトニック結晶アレイ並列処理方式
 測定再現性 膜厚: 0.1nm, 屈折率: 0.001※
 装置構成
 光源 半導体レーザ(typ. 635nm)
 測定スポット 約 1mm角
 入射角度 60,70,75[deg] 手動交換
 ステージサイズ Φ75mm (最大サンプルサイズ:Φ100mm)
 PC 接続 I/F USB 2.0
 寸法・重量 光学系本体:290 W×210 D×110 H [mm],
 約3kg
※Si上SiO2膜(約100nm)を入射角70°にて繰り返し測定した標準偏差
 製品内容        PCAエリプソメータ一式
 ノートパソコン 標準サンプル
 ソフトウェア(インストールCD)        
 取扱説明書

 ※動作波長帯域、ソフトウェア改良等の御希望がございましたら、御相談下さい。